溫度沖擊試驗(yàn)是主要用于確定產(chǎn)品在溫度變化(溫度沖擊)期間和之后受到的影響,即確定產(chǎn)品能否經(jīng)受其周圍大氣溫度的急劇變化,而不產(chǎn)生物理破壞或功能與性能下降,其急劇變化的定義為溫度變化量大于10℃溫度沖擊(變化)試驗(yàn)的另一種用途是作為考量安全性要求下對(duì)可能出現(xiàn)的潛在的安全性問(wèn)題和缺陷的篩選手段,是一種用于考核產(chǎn)品安全設(shè)計(jì)(是指只要試驗(yàn)條件不超過(guò)設(shè)備的設(shè)計(jì)極限的極端溫度變化速率)、生產(chǎn)工藝,剔除潛在缺陷的方法。
溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)M的環(huán)境情況
電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時(shí),其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。
下列情況下,可預(yù)見(jiàn)快速的溫度變化:
1、當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境,或相反情況時(shí);
2、當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷卻時(shí);
3、安裝于外部的機(jī)載設(shè)備中;
4、在某些運(yùn)輸和貯存條件下。
通電后設(shè)備中會(huì)產(chǎn)生高的溫度梯度,由于溫度變化,元器件會(huì)經(jīng)受應(yīng)力,例如,在大功率的電阻器旁邊,輻射會(huì)引起鄰近元器件表面溫度升高,而其他部分仍然是冷的。
當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時(shí),人工冷卻的元器件會(huì)經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過(guò)程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時(shí)間間隔都是很重要的。
溫度沖擊試驗(yàn)要求和目的
1、高低溫沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)的目的是用來(lái)確定測(cè)試產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化時(shí)候的適應(yīng)性以及被破壞性的。
2、試驗(yàn)箱試驗(yàn)的條件,高溫箱是在:RT~150℃,低溫箱是在:RT~-40℃,試驗(yàn)溫度保持的時(shí)間:1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時(shí)間長(zhǎng)者為準(zhǔn),循環(huán)次數(shù):針對(duì)各個(gè)不同行業(yè)不同廠家所對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)要求不一樣,按照標(biāo)準(zhǔn)上的試驗(yàn)方法測(cè)試。
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